检测电子设备温升的简单解决方案ThermoflaggerTM
东芝电子元件及存储装置株式会社（“东芝”）今日宣布，推出过温检测IC ThermoflaggerTM系列的首两款产品：“TCTH021BE” 当检测到异常状态时，FLAG信号不带锁存功能,“TCTH022BE”FLAG信号检测带锁存功能。它们利用正温度系数（PTC）热敏电阻在简单的电路配置中检测电子设备内部的温升。该产品于今日开始支持批量出货。
为了使电子设备按规定运行，其半导体和电子元件必须在设计参数范围内工作。温度是一个关键参数，特别是当内部温度高于设计时的假设温度时。这可能是在安全性和可靠性方面的一个主要问题，因此需要过温监测解决方案来检测任何的温升。
新款ThermoflaggerTM IC与PTC热敏电阻结合使用，可根据温度改变电阻值进行监测。它们可检测放置在热源附近的PTC热敏电阻的电阻值变化，并输出FLAG信号以显示过温。串联PTC热敏电阻可实现多个位置的过温检测。
新款IC采用小型标准SOT-553封装（东芝的封装名称：ESV），电流消耗低至11.3μA（典型值）。
采用新款IC的参考设计“过温检测IC Thermoflagger™的应用电路”现已发布。
ThermoflaggerTM IC允许用户为整个电子产品轻松配置过温检测系统，并助力实现尺寸和功耗的双重改善。东芝将继续开发具有各种功能的ThermoflaggerTM IC。
- 应用
– 移动设备（笔记本电脑等）
– 家用电器
– 工业设备等
- 特性
– 配置简单，可与PTC热敏电阻结合使用
– 通过串联PTC热敏电阻可同时在多个点进行过温监测
– 低功耗：IDD10U＝11.3μA（典型值）
– 小型标准封装：SOT-553（ESV）
– 可选PTCO输出电流：IPTCO＝10μA（典型值）
– 高PTCO输出电流精度：±8%（VDD＝3.3V，25℃）
– FLAG信号输出（PTCGOOD）